
产品分类
Products这是DIN 规格的小型通用位移计数器。与GS/AS/BS系列位移传感器配套使用,可测量长度尺寸或位移,并能数字显示。
HS-3412/3425位移传感器与的计数器HG-4370组合,使用本公司独自开发的位移信号处理技术,可以进行高分辨率(0.05 μm)及高精度(±0. 5 μm)的尺寸测量
可以检测各种尺寸、位移及移动量的传感器。均采用本公司独立开发的线规方式,其设计耐久性好,耐冲击性也好。
可测实际应用的所有镀层 ? 利用库仑电量分析原理,测量镀层、多层镀层 ? 符合标准:DIN EN ISO 2177
美国Oakland公司生产的多功能自动薄膜和纸张测厚仪MX-1100,既可单独使用,也可以和电脑连接??裳∨渲柿靠刂迫砑≦uality Control Software),以用于测量结果的分析和统计
美国Oakland公司生产的薄膜测厚仪CX-1000基于电容法则,使用被测样品作为不导电介质。当被测样品被传送通过传感器时,仪器能测出细微的厚度变化并记录下来,兼具良好的精度和重复性
美国Oakland公司生产的RT-6000是一款理想的实验室和工厂使用的透明度测试仪。可测量塑料薄膜、纸张、层压薄板、印刷包装和其他材料的相对透明度
SIGMASCOPE® SMP10 手提式仪器快速的,简便的,现场的以及需要时非接触式的测量非磁性金属的电导率。
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